探针卡MLO — 测试良率的关键
Probe Card MLO (多层有机载板) 在先进晶片测试中扮演关键角色,需要具备高层数与厚叠结构,优异的电性连接能力、能承受高频与高电流的传输特性,以及足以抵抗反复压针造成机械疲劳的多层结构强度。这些结构与电性要求,使 Probe Card MLO 成为半导体测试领域中最具挑战性、也最关键的核心载板基础。
